x 25pc gage pin集

Meyer Class X MG-25系列PIN Gage套装

用作校准测量设备的主人，并检查比较器，微米和卡钳的线性。这些“第十步”量具集具有无限的应用，例如质量控制检查，原型工作和生产布局。检查员从引脚范围内选择，以找到孔或插槽的大小。这些圆形大师模拟圆柱形部分，与扁平块不同，可以检测微米和卡钳的尖端上的不均匀磨损。薄的“线”的接触检测不均匀的面部磨损比具有大接触区域的扁平计量块更好。

功能包括：

• 每个集合包含25个类x公差（.00004“）量具销。可追溯到nist。
• 选择两个公差：加（+00004“）或减号（-.00004”）
• 套装由中心标称大小，加上......
• 12个引脚格表在.0001中更大“步骤
• 12个引脚量规更小，以.0001 "的步骤。
• 每个量规都经过检查，有2微米或更好的光洁度。
• 热处理和通过硬化至60-62罗克韦尔C.
• 所有PIN测量值超过.060“或1. 51mm是标有尺寸方向的激光，可用于可追溯性的序列号。

订购时，从下拉菜单中选择标称尺寸范围。

我们收到订单后，我们将通过电子邮件发送给您的PIN Gage集的标称尺寸。